耐壓在50V的安規(guī)電容，潮氣滲入了，在電容兩端加5V電壓的時候，附著在介質上的潮氣就成了一個漏電流通道，但因為電壓低，這個漏電流并不很大，通路阻抗上產(chǎn)生的熱量也并不大，不足以將水汽加熱蒸發(fā)掉，但破壞電容的儲能特性是足夠了。如果加高壓，導通阻抗仍維持不變，隨著電壓的升高，漏電流勢必增大，增大的漏電流在導通阻抗上就會產(chǎn)生較大的熱量I2R，這個熱量也會導致潮氣蒸發(fā)，結果也是電容漏電流逐漸變小，直至恢復儲能功能。

安規(guī)電容有個典型的失效機理是低壓失效。從安規(guī)的角度來講，都喜歡把余量留得大一點，這樣即使設計上有點缺陷，器件也不會故障。這么做就錯了。

低壓失效的現(xiàn)象：

一、實際應用電壓遠低于電容的額定耐壓值，一般在額定值的10%以下；

二、濕熱實驗或潮濕預處理后電容會失效；

三、從濕熱實驗和潮濕預處理后，進行高熱實驗或電路板烘烤，電容會恢復正常；

四、或者將失效電容從電路板上拆下，兩端加較高點壓，額定值的60%-75%左右，電容的性能會恢復正常。

如果您用到的安規(guī)電容遇到了類似現(xiàn)象，基本上可以初步確診為低壓失效的可能了。那原因何在？

安規(guī)電容中的兩個極片中間有介質，然后被殼體將電容極片、介質進行封裝，事實上，封裝的殼體不會100%的致密，就給潮氣滲入提供了可能。舉例，耐壓在50V的安規(guī)電容，潮氣滲入了，在電容兩端加5V電壓的時候，附著在介質上的潮氣就成了一個漏電流通道，但因為電壓低，這個漏電流并不很大，通路阻抗上產(chǎn)生的熱量也并不大，不足以將水汽加熱蒸發(fā)掉，但破壞電容的儲能特性是足夠了。于是，電容失效了。

高溫實驗，高溫下水汽蒸發(fā)，漏電流通道不復存在，電容恢復正常；如果加高壓，導通阻抗仍維持不變，隨著電壓的升高，漏電流勢必增大，增大的漏電流在導通阻抗上就會產(chǎn)生較大的熱量I2R，這個熱量也會導致潮氣蒸發(fā)，結果也是電容漏電流逐漸變小，直至恢復儲能功能。

因此安規(guī)電容選型的耐壓指標絕對不能余量留得太大，這是選型時容易出現(xiàn)問題的一個關鍵點。

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