電子元件的主要失效模式包括開(kāi)路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能故障、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定故障等。舉個(gè)例子，一個(gè)半導(dǎo)體元件有完整的外觀，但實(shí)際上需要花費(fèi)大量時(shí)間調(diào)整硬件電路，有時(shí)甚至?xí)?。什么?我今天要講的是電容、電阻和電感。為防止電容器過(guò)壓失效，電容器在過(guò)壓下容易被擊穿，但在實(shí)際應(yīng)用中經(jīng)常出現(xiàn)瞬時(shí)高壓。選擇耐暫態(tài)過(guò)電壓性能好的電容器，找原廠制造，安全可靠。

電子元件的主要失效模式包括開(kāi)路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能故障、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定故障等。對(duì)于硬件工程師來(lái)說(shuō)，電子元器件的故障是很麻煩的。舉個(gè)例子，一個(gè)半導(dǎo)體元件有完整的外觀，但實(shí)際上需要花費(fèi)大量時(shí)間調(diào)整硬件電路，有時(shí)甚至?xí)?。什么?我今天要講的是電容、電阻和電感。

電容器常見(jiàn)的故障模式是破壞性短路致命故障開(kāi)路致命故障的電氣參數(shù)變化(包括電容量差、損失角的正切值增加、絕緣性能下降或漏電流增加等)部分功能性故障漏電部分功能性故障引線腐蝕或斷裂致命性故障絕緣子斷裂致命性故障絕緣子表面起弧部分為功能性故障，電容器故障有多種原因。各種電容器的材料、結(jié)構(gòu)、制造技術(shù)、性能和使用環(huán)境不同，失效機(jī)理也不同。

電容器損壞的主要失效機(jī)理①介質(zhì)材料有缺陷或含有導(dǎo)電雜質(zhì)或?qū)щ婎w粒②介質(zhì)的電老化和熱老化③介質(zhì)內(nèi)部的電化學(xué)反應(yīng)④銀離子遷移⑤電容器制造過(guò)程中對(duì)介質(zhì)的機(jī)械損傷⑥介質(zhì)的分子結(jié)構(gòu)變化⑦介質(zhì)在高濕度或低氣壓環(huán)境下的極端電弧和機(jī)械應(yīng)力下瞬間短路。

為防止電容器過(guò)壓失效，電容器在過(guò)壓下容易被擊穿，但在實(shí)際應(yīng)用中經(jīng)常出現(xiàn)瞬時(shí)高壓。選擇耐暫態(tài)過(guò)電壓性能好的電容器，找原廠制造，安全可靠。

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