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    關(guān)于陶瓷電容失效的內(nèi)因外因分析

    返回列表來源:新晨陽 發(fā)布日期: 2020.07.08 瀏覽:0

    燒結(jié)裂紋燒結(jié)裂紋通常起源于一端電極并垂直擴展。主要原因與燒結(jié)過程中的冷 卻速率有關(guān),裂紋和危害與空洞相似。機械應(yīng)力裂紋多層陶瓷電容器具有承受較大壓應(yīng)力的特點,但其抗彎曲性能較差。在設(shè)備裝配過程中,任何可能產(chǎn)生彎曲變形的操作都可能導致設(shè)備開裂。這種裂紋一般起源于器件的上、下金屬化端,在45℃時擴展到器件的內(nèi)部。這種缺 陷也是常見的缺 陷。

    關(guān)于陶瓷電容失效的內(nèi)因外因分析-電容知識-新晨陽電子

    燒結(jié)裂紋(FiringCrack)燒結(jié)裂紋通常起源于一端電極并垂直擴展。主要原因與燒結(jié)過程中的冷 卻速率有關(guān),裂紋和危害與空洞相似。

    層狀(分層)多層陶瓷電容器的燒結(jié)為多層材料堆放和共燒,燒結(jié)溫度可達1000℃,燒結(jié)過程中層間附著力不強,內(nèi)部污染物蒸發(fā),燒結(jié)過程不合理,易發(fā)生分層,分層、空洞、裂紋的危害與空隙和裂紋相似,是多層陶瓷電容器的一個重要的內(nèi)部缺 陷。

    溫度沖擊裂紋主要是由焊 接設(shè)備的溫度沖擊引起的,尤其是在波峰焊 接中,不合理的修 復也是產(chǎn)生溫度沖擊裂紋的一個重要原因。

    兩個。機械應(yīng)力裂紋(FlexCrack)多層陶瓷電容器具有承受較大壓應(yīng)力的特點,但其抗彎曲性能較差。在設(shè)備裝配過程中,任何可能產(chǎn)生彎曲變形的操作都可能導致設(shè)備開裂。常見的應(yīng)力源有:貼片對齊、工藝電路板操作、人員、設(shè)備循環(huán)過程、重力等因素;通孔元件插入;電路測試、單板分割;電路板安裝;電路板定位與鉚接;螺桿安裝等。這種裂紋一般起源于器件的上、下金屬化端,在45℃時擴展到器件的內(nèi)部。這種缺 陷也是常見的缺 陷。



    本文標簽:電容 電容知識 電容特性 電容類型 上一篇:陶瓷電容的性質(zhì)與失效 下一篇:電感設(shè)計的重要原則
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